学術論文誌(査読付)

[1] 畑 秀明, 水野 修, 菊野 亨, "開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測," 情報処理学会論文誌, volume 53, number 6, pages 1635-1643, 2012年6月.

[2] 畑 秀明, 水野 修, 菊野 亨, "不具合予測に関するメトリクスについての研究論文の系統的レビュー," コンピュータソフトウェア, volume 29, number 1, pages 106-117, 2012年2月.

[3] Takeshi Sumi, Osamu Mizuno, Tohru Kikuno, and Masayuki Hirayama, "An Effective Testing Method for Hardware Related Fault in Embedded Software," IEICE Trans. on Information and Systems, volume E88-D, number 6, pages 1142-1149, June 2005.

国際会議(査読付)

[1] Masahiro Kimoto, Osamu Mizuno, and Tohru Kikuno, "Extraction of Fault-Prone Modules Based on Fault Tracking Data from Open Source Software Repository," In 37th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN2007), Supplemental Proceedings, pages 366-367, June 2007.

[2] Sousuke Amasaki, Yasunari Takagi, Osamu Mizuno, and Tohru Kikuno, "A Bayesian Belief Network for Assessing the Likelihood of Fault Content," In Proc. of 14th International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE2003), pages 215-226, November 2003.

国内会議(査読付)

[1] 西浦 生成, 崔 銀惠, 水野 修, "ロジスティック回帰分析を用いた組合せテストの不具合特定法の提案," FOSEソフトウェア工学の基礎研究会(FOSE2016), pages 243-244, 2016年12月.

研究会・全国大会等

[1] 出張 純也, 水野 修, 菊野 亨, 菊地 奈穂美, 平山 雅之, "相関ルールマイニングによる企業横断データにおける不具合工数密度の分析," 電子情報通信学会技術研究報告, volume 107, number 275, SS2007-36, pages 35-40, 2007年10月.

[2] 平山 雅之, 岸本 卓也, 水野 修, 菊野 亨, "UseCaseを利用したソフトウェアフォールトに対するSS-FTAの提案," 電子情報通信学会技術研究報告, volume 99, number 547-548, SS99-53, pages 25-32, 2000年1月.