SEL@KIT: 畑, 水野, 菊野, 開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測, 2012年6月.
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畑, 水野, 菊野, "開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測," 情報処理学会論文誌, 53(6), pp. 1635-1643, 2012年6月.
ID 655
分類 学術論文誌(査読付)
タグ fault fine-grained historical metrics modules prediction メトリクス モジュール 予測 履歴 度 粒 細 開発
表題 (title) 開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測
表題 (英文) Fault Prediction on Fine-Grained Modules Based on Historical Metrics
著者名 (author) 畑 秀明,水野 修,菊野 亨
英文著者名 (author) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
キー (key) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
定期刊行物名 (journal) 情報処理学会論文誌
定期刊行物名 (英文) Trans. of Information Processing Society of Japan
巻数 (volume) 53
号数 (number) 6
ページ範囲 (pages) 1635-1643
刊行月 (month) 6
出版年 (year) 2012
Impact Factor (JCR)
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付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract) Fault-prone モジュールの予測において,ソフトウェアリポジトリから収集可能な開発履歴メトリク スは有用であることが数多くの文献で報告されている.開発履歴メトリクスには,コードに関するもの, プロセスに関するもの,開発組織に関するものなどがある.これらのメトリクスの収集はファイルレベ ルでは容易であるが,より細粒度なメソッドレベルでは収集が困難であった.これは,版管理システムが ソースコードをファイルレベルで管理するためである.本稿では,以前に提案した細粒度履歴管理リポジ トリを用いることでメソッドレベルの開発履歴メトリクスの収集を行う.オープンソースソフトウェアプ ロジェクトを対象に開発履歴メトリクスを細粒度モジュール(メソッドレベル)とファイルレベルで収集 し,Fault-prone モジュール予測を行った.工数を考慮した評価から,細粒度モジュールでの Fault-prone モジュール予測がファイルレベルに比べて有用であることを確認した.
論文電子ファイル 利用できません.
BiBTeXエントリ
@article{id655,
         title = {開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測},
        author = {畑 秀明 and 水野 修 and 菊野 亨},
       journal = {情報処理学会論文誌},
        volume = {53},
        number = {6},
         pages = {1635-1643},
         month = {6},
          year = {2012},
}
  

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