学術論文誌(査読付)

[1] 横井 一輝, 崔 恩瀞, 吉田 則裕, 井上 克郎, "情報検索技術に基づく細粒度ブロッククローン検出," コンピュータソフトウェア, volume 35, number 4, pages 16-36, 2018年10月.

[2] 畑 秀明, 水野 修, 菊野 亨, "開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測," 情報処理学会論文誌, volume 53, number 6, pages 1635-1643, 2012年6月.

国内会議(査読付)

[1] 畑 秀明, 水野 修, 菊野 亨, "開発履歴メトリクスに基づくfault-proneモジュール予測の細粒度モジュールへの適用," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2011(SES2011), number 4, 2011年9月.

学位論文

[1] 松村 好剛, "テキストフィルタに基づく不具合検出手法の細粒度リポジトリへの適用と評価," 先端科学技術演習報告書, 京都工芸繊維大学, 2012年2月.

[2] 山田 悠太, "テキスト分類に基づく不具合混入モジュール予測法に対する細粒度学習の適用評価," 卒業研究報告書, 京都工芸繊維大学, 2011年2月.