学術論文誌(査読付)

[1] 畑 秀明, 水野 修, 菊野 亨, "開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測," 情報処理学会論文誌, volume 53, number 6, pages 1635-1643, 2012年6月.

国内会議(査読付)

[1] 畑 秀明, 水野 修, 菊野 亨, "開発履歴メトリクスに基づくfault-proneモジュール予測の細粒度モジュールへの適用," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2011(SES2011), number 4, 2011年9月.