国内会議(査読付)

[1] 畑 秀明, 水野 修, 菊野 亨, "開発履歴メトリクスに基づくfault-proneモジュール予測の細粒度モジュールへの適用," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2011(SES2011), number 4, 2011年9月.