SEL@KIT: M. Kondo, C. Bezemer, Y. Kamei, A. E. Hassan, and O. Mizuno, SIGSE卓越研究賞: The Impact of Feature Reduction Techniques on Defect Prediction Models, August 2019.
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M. Kondo, C. Bezemer, Y. Kamei, A. E. Hassan, and O. Mizuno, "SIGSE卓越研究賞: The Impact of Feature Reduction Techniques on Defect Prediction Models," Empirical Software Engineering, 10.1007/s10664-018-9679-5, August 2019.
ID 874
分類 受賞
タグ 卓越 研究 賞
表題 (title) SIGSE卓越研究賞: The Impact of Feature Reduction Techniques on Defect Prediction Models
表題 (英文)
著者名 (author) Masanari Kondo, Cor-Paul Bezemer, Yasutaka Kamei, Ahmed E. Hassan, Osamu Mizuno
英文著者名 (author) Masanari Kondo,Cor-Paul Bezemer,Yasutaka Kamei,Ahmed E. Hassan,Osamu Mizuno
キー (key) Masanari Kondo,Cor-Paul Bezemer,Yasutaka Kamei,Ahmed E. Hassan,Osamu Mizuno
定期刊行物名 (journal) Empirical Software Engineering
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 10.1007/s10664-018-9679-5
刊行月 (month) 8
出版年 (year) 2019
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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